电子元器件检测

2021-09-30 12:52

    安测凭借专业技术团队及高端分析设备,在集成电路、元器件、PCBA、光伏、LED、LCD液晶领域提供失效、材料、无损、微纳分析,可靠性测试,逆向工程,工艺分析等服务,并为各领域新材料研发提供专业材料分析平台。 我们致力成为半导体、电子、新材料领域分析的领跑者,加速研发过程、提升产品效能,为您的产品保驾护航。

分类:

1. 切片+显微观察(光学显微镜OM、扫描电镜SEM、透射电镜TEM)

2. 材料力学/电学/热学/化学性能分析

3. 表面微区分析

4. 异物/污染分析

5. 成分分析

6. 材料老化及可靠性分析

表面材料分析手段 :

1. AES 俄歇电子能谱仪应用

2. AFM 原子力显微镜应用

3. EELS 电子能量损失分析仪应用

4. FT-IR 傅立叶红外显微镜应用

5. SEM/EDS 扫描电子显微镜/X射线能谱仪应用

6. SIMS 二次离子能谱仪(特殊定点/非定点制样、元素分析)

7. TEM 透射电镜(定点/非定点制样及上机观察)

8. TOF-SIMS 飞行时间二次离子质谱应用

9. XPS X射线光电子能谱仪应用


留言提交
  • 姓名*

    *
  • 邮箱

  • 电话

  • 内容

站内搜索

联系信息

电话:400-611-6855
手机:13221089978
传真:+86-571-85356563
客服QQ:154869767
邮箱:hzance@163.com
地址:杭州市西湖科技园灯彩街567号华彩国际5幢21楼



合作伙伴